晶圆显示AOI检测设备
对于硅基Micro LED/OLED产品点亮后的光学、电学等性能，进行拍照、分析检测的全自动设备，应用在Micro LED显示产品切割前的Cell段点灯工序的显示功能及缺陷检测。
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产品优势
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01高分辨率光学系统，最小可对应2.5μm Pitch像素的检测
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02全自动优化设计，可实现高速检测，Wafer AOI Test：TT＜15S/DIE
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03高准确率算法设计，判级准确率≥99%
产品功能
1.Micro-LED/OLED Wafer产品屏幕点亮后的画面检测
2.测试项目包括亮度，波长测试，死点、暗点、亮点测试等
3.可对接自动上料及MES系统
